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讓你最快速的了解X射線探傷無損檢驗技術(shù)

點擊次數(shù):6247 發(fā)布時間:2021-11-20
        導(dǎo)讀
  X射線探傷是指利用X射線能夠穿透金屬材料,并由于材料對射線的吸收和散射作用的不同,從而使膠片感光不一樣,于是在底片上形成黑度不同的影像,據(jù)此來判斷材料內(nèi)部缺陷情況的一種檢驗方法。
  X射線能在無損檢驗技術(shù)中得到廣泛應(yīng)用的主要原因是:X射線探傷是指利用X射線能夠穿透金屬材料,并由于材料對射線的吸收和散射作用的不同,從而使膠片感光不一樣,于是在底片上形成黑度不同的影像,據(jù)此來判斷材料內(nèi)部缺陷情況的一種檢驗方法。
  X射線探傷原理
  X射線探傷是利用X射線可以穿透物質(zhì)和在物質(zhì)中具有衰減的特性,發(fā)現(xiàn)缺陷的一種無損檢測方法。
  X射線的波長很短一般為0.001~0.1nm。
  X射線以光速直線傳播,不受電場和磁場的影響,可穿透物質(zhì),在穿透過程中有衰減,能使膠片感光。
  當(dāng)X射線穿透物質(zhì)時,由于射線與物質(zhì)的相互作用,將產(chǎn)生一系列極為復(fù)雜的物理過程,其結(jié)果使射線被吸收和散射而失去一部分能量,強(qiáng)度相應(yīng)減弱,這種現(xiàn)象稱之為射線的衰減。
  X射線探傷的實質(zhì)是根據(jù)被檢驗工件與其內(nèi)部缺陷介質(zhì)對射線能量衰減程度不同,而引起射線透過工件后強(qiáng)度差異,使感光材料(膠片)上獲得缺陷投影所產(chǎn)生的潛影,經(jīng)過暗室處理后獲得缺陷影像,再對照標(biāo)準(zhǔn)評定工件內(nèi)部缺陷的性質(zhì)和底片級別。
  設(shè)備
  (1)射線源
  X射線機(jī)是X射線探傷的主要設(shè)備。國產(chǎn)X射線探傷機(jī)已系列化,分為移動式和便攜式兩大類
  (2)射線膠片
  X射線膠片是一種片基兩面均涂有結(jié)合層、乳劑層和保護(hù)層的專用膠片。一般按照乳劑中銀鹽顆粒度由小到大的順序?qū)⒛z片分為J1,J2,J3三種。
  銀鹽粒度越小缺陷影像越真切,但感光速度變慢,曝光量會成倍增加。
  因此,只有目的在于檢測細(xì)小裂紋等缺陷時才選用微?;虺⒘5哪z片。一般要求的選用J3級膠片用于感光速度快,照相質(zhì)量要求不高的情況。鍋爐壓力容器選擇J2膠片。
  (3)增感屏
  射線膠片對射線的吸收率是很低的,一般只能吸收射線強(qiáng)度的1%,其余絕大部分射線穿過膠片而損失掉,這將使透照時間大大延長。為了提高膠片的感光速度,縮短曝光時間,通常在膠片兩側(cè)夾以增感屏。
  金屬增感屏是由金屬箔粘合在紙基或膠片基上制成。
  金屬增感屏有前后屏之分,與射線膠片緊密接觸,布置在先于膠片接受射線照射者稱前屏,后于膠片接受射線照射者稱后屏。增感屏被射線透射后可產(chǎn)生二次電子和二次射線,增加對膠片的感光作用。
  同時它對波長較長的散射線又有吸收作用(又稱濾波作用),減小散射線引起的灰霧度,提高了底片的成像質(zhì)量。
  (4)線型像質(zhì)計
  像質(zhì)計是用來檢查透照技術(shù)和膠片處理質(zhì)量的。
  衡量該質(zhì)量的數(shù)值是像質(zhì)指數(shù),它等于底片上能識別出的最細(xì)鋼絲線的編號。
  使用線型像質(zhì)計時要注意以下幾方面:
  1)線型像質(zhì)計應(yīng)放在射線源一側(cè)的工件表面被檢焊縫區(qū)長度1/4處,鋼絲應(yīng)橫跨焊縫并與焊縫軸線垂直,細(xì)鋼絲置于外側(cè)。
  當(dāng)射線源一側(cè)無法放置像質(zhì)計時,也可放在膠片一側(cè)的工件表面上,但應(yīng)通過對比試驗,使實際像質(zhì)指數(shù)值達(dá)到規(guī)定的要求。
  2)像質(zhì)計放在膠片一側(cè)工件表面上時,象質(zhì)計應(yīng)附加“F”標(biāo)記,以示區(qū)別。
  3)采用射線源置于圓心位置的周向曝光技術(shù)時,像質(zhì)計應(yīng)放在內(nèi)壁,每隔90°放一個。
  另外,射線探傷系統(tǒng)的組成還包括鉛罩、鉛光闌、鉛遮板、底部鉛板、暗盒、標(biāo)記帶,其中標(biāo)記帶可使每張射線底片與工件被檢部位能始終對照。
  方法
  射線探傷除照相法外,還有X射線熒光屏觀察法、電視觀察法。
  X射線照相法
  這種方法是用感光膠片代替熒光觀察法的熒光屏,當(dāng)膠片被X射線照射而感光后,復(fù)經(jīng)顯影,即可顯現(xiàn)出不同的感光程度。
  若射線的強(qiáng)度越大,則膠片的感光越多,顯影后的黑度就越大。
  當(dāng)某處與周圍對比的黑度較大時,則可確認(rèn)存在缺陷。照相法的靈敏度高、適應(yīng)性強(qiáng),同時膠片可長期保存待查。但程序較多、費時、成本較高。
  X射線熒光屏觀察法
  X射線透過被檢查物體后,把不同強(qiáng)度的射線,再投射在涂有熒光物質(zhì)的熒光屏上,激發(fā)出不同強(qiáng)度的熒光而得到物體的影像。
  如果我們能直接從熒光屏上觀察缺陷影像,就稱為X射線熒光屏觀察法。
  熒光屏觀察法與照相法的不同點:
  熒光屏上所看到的缺陷影像是發(fā)亮的,而在底片上見到的缺陷影像是暗黑的;
  前者不用暗室處理,因而暗室處理影響其影像質(zhì)量的因素不存在,但其它因素與照相法同;
  熒光屏上的熒光物質(zhì)與照相法中增感屏上的熒光物質(zhì)不同,它要求這種物質(zhì)所發(fā)熒光對人的眼睛。
  熒光屏觀察法能對工件連續(xù)檢查,并能迅速得出結(jié)果。
  因此能節(jié)省大量的軟片與工時,成本低。但是,熒光屏觀察法的靈敏度要低一些。
  由于它不能像照相法那樣把射線的能量積累起來,它只能檢查較薄的結(jié)構(gòu)簡單的工件。
  熒光屏觀察法所用的設(shè)備是X射線發(fā)生器及其控制設(shè)備;熒光觀察屏;觀察和記錄用的輔助沒備;防護(hù)及傳送設(shè)備等。
  X射線電視觀察法
  X射線照相法既費工時,又不經(jīng)濟(jì),不適宜于批量生產(chǎn)的工廠。
  然而,X射線熒光屏觀察法由于成象的光亮度差、靈敏度低,并且大多在熒光透視箱內(nèi)進(jìn)行,故也未廣泛采用。隨著光電微光技術(shù)的發(fā)展,微光象增強(qiáng)器和攝象管得到重視和廣泛應(yīng)用。
  X射線電視觀察法的優(yōu)點是可以直接觀察副物體內(nèi)部在靜態(tài)和動態(tài)下的情況,并能多次觀察;不需照相法那一套處理系統(tǒng);可以流水作業(yè),快速。
  此法的不足之處是靈敏度比照相法低;圖象增強(qiáng)管接受輻射能量只達(dá)160kV左右,因而受到一定限制;由于泄露輻射的影響,檢測幾何形狀較為復(fù)雜的零件較為困難。
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